Marlin СИПМ/СЭХМ/АСМ

   Москва

Перейти на сайт производителя

Высокоскоростная сканирующая микроскопия ионной проводимости
Бесконтактное исследование живых клеток в естественной физиологической среде
Измерение механических свойств в широком диапазоне жесткостей
Patch-clamp измерения с нанометровой локализацией
Комбинация с оптическими методиками

Отзывы

Чтобы оставить отзыв, авторизуйтесь на ScienceID