Двухкристальный рентгеновский дифрактометр ДСО-1 (DSO-1)
Санкт-Петербург
Двухкристальный рентгеновский дифрактометр ДСО-1 (DSO-1) предназначен для автоматического измерения ряда структурных характеристик полупроводниковых пластин: структурного совершенства образцов по кривым качания, параметров решëтки, профиля деформации приповерхностной структуры и др. Он позволяет также определять ориентацию кристаллов.