Приставка зеркального отражения ПЗО80

Инфраспек

Санкт-Петербург

химический анализ

материаловедение

Санкт-Петербург

комплектующие

приставка

ИК-спектрометр

Перейти на сайт производителя

Применяется для измерения очень тонких покрытий, имеющих толщину в нанометровом диапазоне, и для исследования мономолекулярных слоёв.

Отзывы

Чтобы оставить отзыв, авторизуйтесь на ScienceID