Приставки зеркального отражения ПЗО30 и ПЗО45

Инфраспек

Санкт-Петербург

материаловедение

Санкт-Петербург

комплектующие

ИК-спектрометр

Перейти на сайт производителя

Предназначены для рутинных измерений образцов, имеющих покрытие в микронном диапазоне: для идентификации покрытий и определения их толщины.

Отзывы

Чтобы оставить отзыв, авторизуйтесь на ScienceID