Нано Скан Технология

Россия Московская область Долгопрудный Заводская , дом 7
+7 (495) 642 40 68
info@nanoscantech.ru

Каталог (19):

Centaur Duos (ACМ/Раман) Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии).... Подробнее
Certus NSOM - сканирующий оптический микроскоп ближнего поля Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), оснащенный специализированными держателями зондов и необходимым оптическим оборудованием для проведения исследований с использованием эффекта ближнего поля... Подробнее
Certus Optic Duos — совмещенные сканирующий зондовый (СЗМ), прямой и инвертированный оптические микроскопы Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым и инвертированным оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии... Подробнее
Ratis 1X – однокоординатный нанопозицонер Сканер представляет собой монолитное металлическое тело (из высококачественного сплава, обычно алюминиевого), в котором электроэрозией и другими методами прецизионной обработки сформированы каналы для пьезокерамических актюаторов, подвижные элементы столика и т.п. ... Подробнее
Блок электронного управления EG 5000 Блок электронного управления EG 5000 является последней модификацией серии контроллеров EG. Предназначен для управления сканирующих зондовых микроскопов, устройств нано позиционирования, всех модификаций. ... Подробнее
Контроллер для пьезопозиционеров EG-1100 Предназначен для управления работой пьезопозиционеров, таких как сканирующий столик Ratis и однокоординатная подвижка Vectis., или иным пьезоустройством.... Подробнее
Микроскоп Centaur I Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии)... Подробнее
Микроскоп Centaur I HR Разработан для проведения комплексных исследований свойств поверхности методами оптической микроскопии, спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии. ... Подробнее
Микроскоп Centaur U Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии)... Подробнее