NT-MDT Spectrum Instruments

Россия Зеленоград пр. № 4922, дом 4, стр. 3
+7 (499) 110-2050
aabykov@ntmdt-si.com
Андрей Быков

Каталог (6):

NANOEDUCATOR II NanoEducator II – это сканирующий зондовый микроскоп, который сочетает в себе простоту, низкую стоимость эксплуатации, возможность использовать в образовательном процессе и профессиональный функционал атомно-силового микроскопа. ... Подробнее
NEXT II Исследовательский АСМ с исключительным уровнем автоматизации подготовки и проведения эксперимента. Рекордно низкий уровень шумов и высочайшая стабильность. Полный набор самых современных методов АСМ, включая методы прыжковой микроскопии (HybriD Mode™).... Подробнее
NTEGRA II АСМ с решениями для передовых задач. Прыжковая АСМ - HybriD Mode™ Автоматизация измерений - ScanTronic™ Широкий набор инструментов Система с открытой архитектурой Удобное программное обеспечение ... Подробнее
NTEGRA NANO IR Универсальный исследовательский АСМ с полным набором самых современных методов исследования морфологии, наномеханических, электрических и магнитных свойств образца, включая методы прыжковой микроскопии. ... Подробнее
NTEGRA Spectra II Физико-химический анализ для нанотехнологий Атомно-силовая микроскопия Конфокальная рамановская и флуоресцентная микроскопия Зондово-усиленное рамановское рассеяние Ближнепольная оптическая микроскопия Система с открытой архитектурой Автоматическая настройка АСМ Удобное программное обеспечение Эргономичный дизайн... Подробнее
VEGA Измерения морфологии, электрических, наномеханических и магнитных свойств с манометровым пространственным разрешением на пластинах диаметром до 200 мм, большеразмерных образцах и массивах образцов. Высочайший уровень автоматизации процессов измерений. ... Подробнее