Инфраспек

Россия Санкт-Петербург Ленсовета, дом д. 88, пом. 37Н
+7 (812) 3829064
info@infraspek.ru

Каталог (38):

Кювета разборная КР1 Кювета КР1 предназначена для исследования жидкостей, помещенных между двумя окнами в виде тонкого слоя, толщина которого определяется толщиной латунной прокладки, выбранной из стандартного комплекта. ... Подробнее
Окна для кюветы КР1 Для разборной жидкостной кюветы КР1 поставляются окна из следующих материалов: KBr, CaF2, BaF2, ZnSe. Окна с отверстиями и без отверстий можно приобрести по отдельности, а можно в комплекте из 2 шт., что значительно выгоднее. ... Подробнее
Подставка для кювет ПК 50-75 Подставка для кювет ПК 50-75 предназначена для установки: кварцевой кюветы типа СФ в держателе ДК 10-10; кварцевой кюветы типа КФК в держателе ДК КФК; разборной кюветы КР1, разборной кюветы КР20, держателя пленок, держателя таблеток, держателя твердых образцов. ... Подробнее
Подставка для кювет типа Specord Данная подставка позволяет использовать в спектрометрах ФСМ кюветы типа Specord и имеет соответствующие присоединительные размеры. ... Подробнее
Приставка диффузного отражения ПДО Приставка предназначена для измерения спектров диффузного отражения рассеивающих поверхностей и дисперсных образцов в средней и ближней инфракрасной области спектра совместно с ИК фурье-спектрометрами ФСМ. ... Подробнее
Приставка для БИК-анализа Приставка предназначена для измерения спектров поглощения образцов в ближней инфракрасной области спектра в диапазоне 4 000 — 12 500 см-1 совместно с ИК фурье-спектрометром ФСМ 1211. Используя ближнюю ИК-область, можно проводить идентификацию и количественный анализ фармацевтических препаратов, продукции химической, полимерной, текстильной, пищевой, сельскохозяйственной и других отраслей промышленности. Метод БИК-анализа позволяет исследовать порошки, измельченные и волокнистые материалы и т.п. ... Подробнее
Приставка зеркального отражения ПЗО10 Предназначена для измерения отражающей способности твердых образцов и анализа покрытий методом отражения с углом падения, близким к нормальному. С помощью этой приставки можно определять отражающую способность оптических элементов, антибликовых покрытий и пр.... Подробнее
Приставка зеркального отражения ПЗО80 Применяется для измерения очень тонких покрытий, имеющих толщину в нанометровом диапазоне, и для исследования мономолекулярных слоёв. ... Подробнее
Приставки для пластин кремния Приставки предназначены для контроля параметров полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм в режиме пропускания или отражения. Параметры пластин контролируются высокочувствительным бесконтактным методом в заданных оператором точках.... Подробнее
Тестер полупроводниковых пластин ФСМ 1201П Тестер для контроля параметров полупроводниковых пластин ФСМ 1201П позволяет в соответствии с заданной оператором программой проводить автоматическое измерение плоскопараллельных полированных пластин кремния диаметром 76, 100, 125, 150 и 200 мм.... Подробнее